Измерение глубины проникновения магнитного поля в сверхпроводящих наноструктурах методом низкотемпературной резонансной СВЧ спектроскопии
Руководитель
Алексей Юрьевич Аладышкин, Сергей Сергеевич Уставщиков
Характер работы
Экспериментальный.
Описание
Измерение температурной зависимости глубины проникновения магнитного поля в тонкопленочных сверхпроводящих структурах является одной из важных методик диагностики сверхпроводящего состояния. В рамках предлагаемой работы предполагается участие в модернизации исследовательской установки, разработка автоматизированной системы сбора данных, непосредственное проведение измерений, анализ результатов, знакомство с математическими пакетами LabView, Matlab и Python. Студент при должном усердии получит практический опыт работы в области криогенной техники, методов СВЧ измерений, знакомство с базовыми теориями сверхпроводимости (Гинзбурга-Ландау и Бардина-Купера-Шриффера) и навыки анализа полученных данных. Работа проводится в рамках исследовательских проектов ИФМ РАН.
Контакты
ИФМ РАН к. 026, т. 417-94-85 (+257, +258, +311), aladyshkin@ipmras.ru