Исследование магнитных наноструктур методами электронной микроскопии
Руководитель
Характер работы
Теоретический и экспериментальный.
Описание
В настоящее время широко исследуются неоднородные состояния в тонких плёнках: магнитные вихри, монокиральные магнитные текстуры, скирмионы. В работе предлагается работать методами просвечивающей электронной микроскопии с различными наноструктурами из тонких пленок пермаллоя, инвара и многослойных структур тантал-кобальт-платина.
В первый год работы предлагается:
1) Численно и экспериментально исследовать состояния в искусственной решётке антиточек ромбической формы, в которой формируются упорядоченные решётки связанных вихрей и антивихрей;
2) Численно исследовать влияние монокиральных доменных стенок переменной кривизны на формирование френелевского контраста с учётом нанокристаллической структуры плёнок Ta-Co-Pt.
В ходе выполнения курсовой работы студент:
1) Познакомится с методами обработки светло- и темнопольных электронномикроскопических микрофотографий, в т. ч. с использованием нейронных сетей;
2) Ознакомится с методами расшифровки электронной микродифракции и микрофотографий высокого разрешения;
3) Освоит методику моделирования микромагнитных распределений в симуляторе MuMax3;
4) Освоит методику моделирования френелевского магнитного контраста по заданным микромагнитным распределениям с учётом приборной функции просвечивающего электронного микроскопа;
5) Примет участие в разработке технологических карт подготовки образцов in-plane и cross-section для просвечивающего электронного микроскопа с помощью системы пробоподготовки Fischione.
Желательно владение английским языком, а также представление о языках программирования Python, C++, Go, CUDA.
Контакты
ИФМ РАН к. 122, т. +7 905 6601966, tatarsky@ipmras.ru
